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儀器使用預約系統(XRD、SEM、AFM)

※   請先確認尚可預約之時段後,再行填寫申請表單。

 

※   委託操作者最早於使用時段的「前三週」及 最晚於使用時段的「三天前」 提出申請,經管理人員評估可進行實驗後方可接受預約,預約成功將發送電子郵件通知。

      Ex: 106/12/1預約,可預約至106/12/22

 

※   若有預約到同時段的,則以收到信件排序進行確認。

 

※   取消該單位(校內申請人以指導教授為停權單位)預約資格兩週狀況如下:

         1. 遲到三十分鐘,即視為預約未到並取消當次操作,累計兩次預約未到。

         2. 當月累計取消3次以上(建議若不確定者,於3天前預約為佳)。

※    取消預約時段需於預約日期前一日提交取消預約申請單,未依規定提出申請者,視為預約未到。

 

儀器使用預約

各儀器預約狀況查詢
冷場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM S-4800)
高精度X光繞射分析儀(XRD D8)
奈米物性量測平台(AFM/Raman)
線上預約申請/取消單
冷場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM S-4800)    線上預約申請單
高精度X光繞射分析儀(XRD D8)    線上預約申請單
奈米物性量測平台(AFM/Raman)
取消預約申請單

 

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